Νανοδομημένη επιφάνεια πυριτίου για οπτικούς αισθητήρες

Περίληψη

Τόσο η φασματοσκοπία Raman όσο και η απεικόνιση μέσω φθορισμού θεωρούνται αξιόπιστες μέθοδοι για την αξιολόγηση της μοριακής δομής ουσιών, με ένα πολύ ευρύ φάσμα εφαρμογών. Τα τελευταία χρόνια, υπάρχει έντονο ερευνητικό ενδιαφέρον ώστε αυτές οι δύο μέθοδοι να αναδειχτούν ως δυο μη επεμβατικές μέθοδοι για την ανίχνευση ουσιών βιολογικού ενδιαφέροντος σε μια πληθώρα βιοϊατρικών εφαρμογών. Ωστόσο, λόγω των ασθενών σημάτων που δίνουν αυτές οι δύο τεχνικές ανίχνευσης και των ιδιαίτερα χαμηλών συγκεντρώσεων των ουσιών, οι συμβατικές μέθοδοι είναι πολύ δύσκολο να εκπληρώσουν τις απαιτήσεις της σύγχρονης έρευνας. Η παρατήρηση της ενίσχυσης του σήματος με τη χρήση μεταλλικών νανοσωματιδίων και ιδιαίτερα ευγενών μετάλλων, με κύριους εκπροσώπους τον άργυρο και τον χρυσό αποτέλεσε το έναυσμα για την περαιτέρω ανάπτυξη των φασματοσκοπικών μεθόδων. Η ανακάλυψη της επιφανειακής ενίσχυσης σκέδασης Raman (Surface Enhanced Raman Spectroscopy-SERS) και της επιφανειακής ενίσχυσης φθορισμού (Sur-face Enha ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

Raman spectroscopy and fluorescence imaging are considered reliable methods for evaluating the molecular structure of substances, with a wide range of applications. In recent years, there has been a strong research interest in establishing non-invasive analytical techniques for detecting substances of biological interest in a variety of biomedical applications based on these two methods. However, due to the weak signals provided by these two techniques and the particularly low concentrations limits for these substances in the samples, these methods are very difficult to fulfill the requirements of modern research. The observation of signal enhancement with the use of metal nanoparticles and especially noble metals, such as silver and gold, has spurred further development of spectroscopic methods. The discovery of Surface Enhanced Raman Spectroscopy-SERS as well as Surface Enhanced Fluorescence-SEF, satisfied the need for high signals and allowed detection of very low analyte concentrat ...
περισσότερα
Η διατριβή είναι δεσμευμένη από τον συγγραφέα  (μέχρι και: 6/2025)
DOI
10.12681/eadd/55271
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/55271
ND
55271
Εναλλακτικός τίτλος
Nanostructured surface of silicon for optical sensors
Συγγραφέας
Κόχυλας, Ιωάννης (Πατρώνυμο: Σωτήριος)
Ημερομηνία
2023
Ίδρυμα
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών (ΕΚΠΑ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής. Τομέας Φυσικής Συμπυκνωμένης Ύλης
Εξεταστική επιτροπή
Γαρδέλης Σπυρίδων
Λυκοδήμος Βλάσιος
Παπανικολάου Νικόλαος
Στεφάνου Νικόλαος
Σιμσερίδης Κωνσταντίνος
Πέτκου Παναγιώτα
Κόντος Αθανάσιος
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική ➨ Φυσική συμπυκνωμένης ύλης
Λέξεις-κλειδιά
Νανονήματα πυριτίου; Χημική εγχάραξη υποβοηθούμενη από μέταλλο; Δενδρίτες αργύρου; Συσσωματώματα αργύρου; Επιφανειακή ενίσχυση σκέδασης Raman; Φωτοφωταύγεια; Οπτικοί αισθητήρες
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
εικ., πιν., σχημ., γραφ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.