Δομικός και χημικός χαρακτηρισμός χαμηλοδιάστατων νανο-ετεροδομών και ατελειών δομής με προηγμένες μεθόδους HR(S)TEM

Περίληψη

H διδακτορική διατριβή αφορά τη μελέτη και κατανόηση φυσικών νανομηχανισμών της ελαστοπλαστικής συμπεριφοράς, της χημικής σύνθεσης και της εισαγωγής ατελειών σε νανο-ετεροδομές με την χρήση τεχνικών ηλεκτρονικής μικροσκοπίας διέλευσης (ΤΕΜ) και σαρωτικής διέλευσης (STEM). Η έρευνα εστιάστηκε σε δομικές διεργασίες που συμβαίνουν εντός ενός ή μερικών ατομικών επιπέδων και στο πώς αυτές καθορίζουν την τελική δομή του επιταξιακού υλικού. Η πειραματική παρατήρηση και ερμηνεία των νανομηχανισμών της δομής των υλικών στο ατομικό επίπεδο κατέστη εφικτή μέσω της ανάπτυξης και αξιοποίησης μιας ολοκληρωμένης ποσοτικής μεθοδολογίας προσδιορισμού και μοντελοποίησης ατομικών θέσεων από παρατηρήσεις (S)TEM υψηλής διακριτικής ικανότητας (HR(S)ΤΕΜ). H μεθοδολογία συνδυάζει προηγμένες τεχνικές HR(S)ΤΕΜ με τοπολογική ανάλυση, μοντελοποίηση ατομικών υπερκυψελίδων και προσομοίωση εικόνας έτσι ώστε να προκύπτουν δομικά μοντέλα μεγάλης ακρίβειας. Στα πλαίσια της διενεργούμενης έρευνας εφαρμόστηκε η μεθοδολογ ...
περισσότερα

Περίληψη σε άλλη γλώσσα

The present PhD thesis concerns the study and understanding of physical nanomechanisms regarding the elastoplastic behavior, chemical synthesis, and defect introduction in nano-heterostructures by using transmission electron microscopy (ΤΕΜ) and scanning TEM (STEM) techniques. The study focused on structural processes occurring in one or few atomic layers and how these processes affect the structure of the epitaxial material. The experimental observation and analysis of such nanomechanisms, at the atomic level, were performed by developing and employing an integrated quantitative methodological approach, based on the determination and modelling of atomic column positions from experimental high-resolution (S)TEM (HR(S)ΤΕΜ) observations. The methodology combines advanced HR(S)ΤΕΜ techniques with topological analysis, structural modelling, atomistic calculations, and image simulations, in order to construct accurate structural models. In the framework of this research, the approach was em ...
περισσότερα

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/52738
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/52738
ND
52738
Εναλλακτικός τίτλος
Structural and chemical characterization of low-dimensional nano-heterostructures and defects by advanced HR(S)TEM methods
Συγγραφέας
Βασιλειάδης, Ισαάκ (Πατρώνυμο: Γεώργιος)
Ημερομηνία
2022
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Φυσικής. Τομέας Φυσικής Στερεάς Κατάστασης. Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας
Εξεταστική επιτροπή
Δημητρακόπουλος Γεώργιος
Κομνηνού Φιλομήλα
Κεχαγιάς Θωμάς
Φράγκης Νικόλαος
Γεωργακίλας Αλέξανδρος
Λυμπεράκης Λιβέριος
Δημάκης Εμμανουήλ
Επιστημονικό πεδίο
Φυσικές ΕπιστήμεςΦυσική ➨ Φυσική συμπυκνωμένης ύλης
Λέξεις-κλειδιά
Ηλεκτρονική μικροσκοπία διέλευσης; Διδιάστατα συστήματα; Κβαντικά φρέατα; Ατέλειες δομής
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Αγγλικά
Άλλα στοιχεία
εικ., πιν., σχημ., γραφ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.