Ανάλυση και σχεδίαση ανεκτικότητας βλαβών αυτοελεγχόμενων και αυτοεπισκευαζόμενων μονάδων μνήμης

Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.

DOI
10.12681/eadd/25086
Διεύθυνση Handle
http://hdl.handle.net/10442/hedi/25086
ND
25086
Εναλλακτικός τίτλος
Analysis and design of fault-tolerant self-testing and repairing memory units
Συγγραφέας
Mehdi, Kamal (Father's name: Abdul-Hadi)
Ημερομηνία
1999
Ίδρυμα
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ). Σχολή Πολυτεχνική. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών
Εξεταστική επιτροπή
ΚΟΝΤΟΛΕΩΝ ΙΩΑΝΝΗΣ
Πετρίδης Βασίλειος
Καμαρινόπουλος Λεωνίδας
Μπακιρτζής Αναστάσιος
Χασάπης Γεώργιος
Πέτρου Λουκάς
Μήτκας Περικλής
Επιστημονικό πεδίο
Επιστήμες Μηχανικού και ΤεχνολογίαΕπιστήμη Ηλεκτρολόγου Μηχανικού, Ηλεκτρονικού Μηχανικού, Μηχανικού Η/Υ
Λέξεις-κλειδιά
Σχεδίαση ανεκτικότητας βλαβών μνημών; Αυτοελεγχόμενες μνήμες; Αυτοεπισκευαζόμενες μνήμες; Βελτίωση απόδοσης παραγωγής και αξιοπιστίας; Μνήμες με διόρθωση σφαλμάτων; Ανάλυση monte carlo; Επανασχηματιζόμενες μνήμες; Ολοκλήρωση σε επίπεδο δίσκου; Ατελή ολοκληρωμένα
Χώρα
Ελλάδα
Γλώσσα
Ελληνικά
Άλλα στοιχεία
285 σ., εικ.
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.